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ABI Electronics

Sistemi di Collaudo e Diagnosi di Schede elettroniche

 

 


SYSTEM 8 Diagnostic Solution



System 8
è un insieme di moduli di stimolo e misura per il collaudo e la diagnostica di  schede e componenti elettronici, sia analogici che digitali.

La modularità di System 8 si traduce nel vantaggio per i clienti di poter approntare soluzioni dedicate sulla base delle reali esigenze di collaudo.


Scopri il nuovo Multiple Instrument Station - MIS4!
 


- Nuovo Modulo MIS4 (Multiple Instrument Station) Nuovo!

Comprende 8 strumenti di misura di elevate prestazioni in un unico modulo. Ideale per progettisti, e utilizzi generici, il modulo include un frequenzimetro, un oscilloscopio a memoria digitale, un generatore di funzioni, un multimetro digitale, un alimentatore ausiliario e un interfaccia universale I/O. Per ottimizzare gli utilizzi è possibile customizzare strumenti standard o progettarne di nuovi su specifica.

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- Modulo AMS (Advanced Matrix Scanner)  Nuovo!
 

Modulo di acquisizione delle firme analogiche V/I a diverse frequenze ed a scheda non alimentata. Le firme possono essere analizzate e confrontate con quelle di riferimento per rilevare componenti difettosi e corti. Ciascun modulo è composto di 64 + 4 canali con parametri variabili (frequenza, tensione, impedenza, impulsi).
Tipi di test: test V/I, test V/I/F, test V/I a matrice, test V/T con impulso.

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- Modulo ATM (Advanced Test Module)

Modulo di 64 canali (implementabili fino a 2.048) dedicato al collaudo funzionale digitale di componenti e schede elettroniche (tecnologie TTL, CMOS, LVTTL e ECL). E’ possibile eseguire i test con scheda alimentata e non.
Tipi di test eseguiti: verifica della tabella della verità (libreria inclusa), test digitali custom, collaudo funzionale della scheda, verifica connessioni, misura di tensioni, prove termiche, test V/I, identificazione integrati digitali, localizzazione di corti.

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- Modulo BFL (Board Fault locator)

Modulo di 64 canali (implementabili fino a 256) dedicato al collaudo di integrati digitali TTL/CMOS sia in-circuit che out-of-circuit.
Tipi di test eseguiti: verifica della tabella della verità (libreria inclusa), test digitali custom TTL, verifica connessioni, misura di tensioni, prove termiche, test V/I, identificazione integrati digitali, localizzazione corti, verifica di EPROM.

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- Modulo AICT (Analog In Circuit Test)

Modulo per il collaudo funzionale di componenti analogici su scheda. Tutti i più comuni componenti analogici possono essere testati come sono configurati sulla scheda. Il modulo include un tester V/I con un generatore di impulsi per provare componenti controllati da gate.
Tipi di test eseguiti: test funzionali, verifica connessioni, misura di tensioni, test V/I, test V/T con impulso.

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- Modulo VPS (Variable Power Supply)

Modulo di alimentazione a tensione variabile. E’ dotato di tre uscite con protezione di sovratensione e limitazione di corrente.

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Una frequente configurazione di System 8:

  • System 8 Diagnostic Solution (composto dai moduli BFL e AICT)

 

Sistema configurato per la ricerca guasti su scheda. Dispone di 64 canali digitali e 24 analogici; grazie alla combinazione di varie tecniche di test e misura è in grado di localizzare i guasti più difficili e nascosti. Il test in-circuit di componenti analogici e digitali è il principale metodo diagnostico utilizzato dal sistema. Inoltre viene utilizzato il test V/I a scheda non alimentata Il facile confronto con una scheda buona e la sequenza automatizzata delle prove rendono realmente semplice la ricerca dei guasti.

Questa configurazione può essere montata nel case di un PC oppure in apposito contenitore con interfaccia USB

Caratteristiche

  • Test funzionale digitale  (in- e out-of-circuit)
  • Test funzionale analogico (componenti discreti e integrati)
  • Generator grafico di test
  • Confronto dal vivo
  • Test V/I digitale e analogue
  • Matrice analogica V-I
  • Identificatore di componenti digitasli
  • Verificatore di EPROM
  • Localizzatore di corti
  • TestlFlow manager